動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-10-21 18:03

  共聚焦顯微鏡（LSCM）的針孔效應(yīng)

  

  共聚焦顯微鏡（LSCM）的核心優(yōu)勢源于其針孔效應(yīng)。該效應(yīng)基于光的衍射與共軛聚焦原理，通過空間濾波實現(xiàn)焦平面信號的精準(zhǔn)捕獲，徹底改變了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的成像局限。其本質(zhì)是利用針孔對光路進行選擇性篩選，構(gòu)建照明與探測光路的共軛關(guān)系，從而獲取高分辨率三維結(jié)構(gòu)信息。該優(yōu)勢在光子灣科技共聚焦顯微鏡的三維成像與高精度檢測解決方案中，得到充分體現(xiàn)與驗證，在材料科學(xué)、半導(dǎo)體等

  光學(xué) 顯微鏡 檢測

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• 發(fā)布了文章 2025-10-16 18:03

  一文讀懂共聚焦顯微鏡的系統(tǒng)組成

  

  共聚焦顯微鏡作為半導(dǎo)體、材料科學(xué)等領(lǐng)域的重要成像設(shè)備，其核心優(yōu)勢在于突破傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的焦外模糊問題。光子灣科技深耕光學(xué)測量領(lǐng)域，其共聚焦顯微鏡技術(shù)優(yōu)勢落地為亞微米級精準(zhǔn)測量、高對比度成像的實際能力，為精密器件檢測與材料分析提供核心支撐，這一功能的實現(xiàn)，依賴于物鏡、光源、掃描、針孔、檢測、計算機控制等系統(tǒng)精密協(xié)同，各系統(tǒng)相互聯(lián)動，共同構(gòu)成完整的成像體系。#P

  半導(dǎo)體 顯微鏡 材料

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• 發(fā)布了文章 2025-10-14 18:03

  共聚焦顯微鏡在半導(dǎo)體硅晶圓檢測中的應(yīng)用

  

  半導(dǎo)體制造工藝中，經(jīng)晶棒切割后的硅晶圓尺寸檢測，是保障后續(xù)制程精度的核心環(huán)節(jié)。共聚焦顯微鏡憑借其高分辨率成像能力與無損檢測特性，成為檢測過程的關(guān)鍵分析工具。下文，光子灣科技將詳解共聚焦顯微鏡檢測硅晶圓全流程：樣品前處理、設(shè)備參數(shù)設(shè)定、系統(tǒng)校準(zhǔn)、三維掃描以及數(shù)據(jù)解析等環(huán)節(jié)，為半導(dǎo)體制造工藝優(yōu)化提供科學(xué)依據(jù)。#Photonixbay.樣品處理與定位半導(dǎo)體硅晶圓表

  半導(dǎo)體 顯微鏡 晶圓

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• 發(fā)布了文章 2025-10-09 18:02

  超景深顯微鏡的工作原理與測試影響因素

  

  在微觀檢測領(lǐng)域，傳統(tǒng)顯微鏡常受限于景深較短的問題，難以同時清晰呈現(xiàn)樣品不同深度的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)，而超景深顯微鏡憑借獨特的技術(shù)優(yōu)勢，有效突破這一局限，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子制造等領(lǐng)域。深入理解其工作原理，精準(zhǔn)把控測試過程中的影響因素，是充分發(fā)揮超景深顯微鏡觀測效能的關(guān)鍵。本文將系統(tǒng)解析超景深顯微鏡的工作原理，并全面梳理影響其測試結(jié)果的核心因素。#Photonixb

  顯微鏡 測試

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• 發(fā)布了文章 2025-09-30 18:05

  共聚焦顯微鏡如何檢測半導(dǎo)體增材膜形貌與缺陷

  

  在微電子、光電子等高端領(lǐng)域，半導(dǎo)體增材膜的性能與其三維形貌及內(nèi)部缺陷高度關(guān)聯(lián)，表面粗糙度影響器件電學(xué)接觸穩(wěn)定性，孔隙、裂紋等缺陷則直接決定薄膜的機械強度與服役壽命。共聚焦顯微鏡憑借其高分辨率三維成像能力，成為揭示半導(dǎo)體增材膜微觀形貌與內(nèi)部缺陷的關(guān)鍵工具，為工藝優(yōu)化與質(zhì)量評估提供了可靠依據(jù)。下文，光子灣科技將從測量原理、參數(shù)優(yōu)化、形貌分析、缺陷表征、技術(shù)特性及

  半導(dǎo)體 顯微鏡 測量

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• 發(fā)布了文章 2025-09-25 18:03

  共聚焦顯微鏡精準(zhǔn)成像的使用技巧

  

  共聚焦顯微鏡的核心使用技巧圍繞“如何優(yōu)化成像質(zhì)量”展開，涵蓋四大關(guān)鍵內(nèi)容：一是成像參數(shù)的動態(tài)調(diào)控，需在亮度、分辨率與成像速度間找到適配平衡；二是針對弱熒光、易淬滅等不同特性的樣品，提供差異化拍攝策略；三是解決多波長激發(fā)時的串色問題，保障信號準(zhǔn)確性；四是使用提升圖像可用性的后期分析工具。下文圖片將直觀呈現(xiàn)這些技巧對應(yīng)的操作界面、參數(shù)設(shè)置場景及效果參考，幫助更清

  顯微鏡 精密測量

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• 發(fā)布了文章 2025-09-23 18:03

  共聚焦顯微鏡的光源、工作原理與選型

  

  共聚焦顯微鏡是一種先進的光學(xué)成像設(shè)備，其設(shè)計核心在于通過消除離焦光，顯著提升顯微圖像的分辨率與對比度。與傳統(tǒng)顯微鏡不同，共聚焦顯微鏡采用點照明技術(shù)與空間針孔結(jié)構(gòu)，僅聚焦于樣本的單個平面，該特性使其在獲取檢測材料的高細(xì)節(jié)、高分辨率三維圖像方面，具備不可替代的核心價值。下文，光子灣科技將圍繞共聚焦顯微鏡的光源、工作原理及選型要點展開詳細(xì)解析，為設(shè)備應(yīng)用與選型提供

  光學(xué)成像 光源 顯微鏡

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• 發(fā)布了文章 2025-09-18 18:07

  共聚焦顯微鏡和電子顯微鏡有什么區(qū)別？

  

  在現(xiàn)代科研與高端制作領(lǐng)域，微觀探索依賴高分辨率成像技術(shù)，共聚焦顯微鏡與電子顯微鏡是其中的核心代表。在微觀檢測中，二者均突破傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡局限，但在原理、性能及應(yīng)用場景上差異顯著，適配不同領(lǐng)域的需求。下文光子灣科技將光源、分辨率、樣本制備、景深與三維成像以及應(yīng)用領(lǐng)域多維度解析二者的區(qū)別，為相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)選型提供參考。#Photonixbay.光源的差異共聚焦顯

  光束 顯微鏡 電子顯微鏡

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• 發(fā)布了文章 2025-09-16 18:05

  一文讀懂共聚焦顯微鏡的核心技術(shù)與應(yīng)用優(yōu)勢

  

  共聚焦顯微鏡作為微觀檢測領(lǐng)域的核心技術(shù)工具，憑借獨特的“點照明”機制與三維成像能力，突破了傳統(tǒng)寬場顯微鏡成像模糊、對比度低的局限，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、鋰電、航天航空等工業(yè)領(lǐng)域。本文光子灣科技將從工作原理、核心部件、主要類型、行業(yè)應(yīng)用及核心優(yōu)勢五大維度，系統(tǒng)解析共聚焦顯微鏡的技術(shù)特點與應(yīng)用價值，助力全面掌握其技術(shù)邏輯與應(yīng)用場景。#Photonixbay.共聚焦顯

  顯微鏡 檢測 電池

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• 發(fā)布了文章 2025-09-11 18:16

  一文讀懂：白光干涉儀vs共聚焦顯微鏡的優(yōu)劣勢差異

  

  在半導(dǎo)體、鋰電、光伏、航空航天等高端制造領(lǐng)域，高精度光學(xué)測量技術(shù)是把控產(chǎn)品質(zhì)量、優(yōu)化生產(chǎn)工藝的核心支撐，直接關(guān)系到產(chǎn)業(yè)升級與技術(shù)創(chuàng)新進程。白光干涉儀與共聚焦顯微鏡是高端制造常用核心測量設(shè)備，白光干涉儀雖在大范圍測量與快速檢測方面具備一定優(yōu)勢，但面對復(fù)雜結(jié)構(gòu)、低反射率樣品時存在明顯制約，且需提前校正斜率；共聚焦顯微鏡則在樣品適配性、測量靈活性與數(shù)據(jù)完整性上表現(xiàn)

  干涉儀 顯微鏡 測量 白光干涉儀

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