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標(biāo)簽 > 測試系統(tǒng)
《測試系統(tǒng)》對(duì)機(jī)電液測試及應(yīng)用技術(shù)進(jìn)行了介紹。首先介紹了機(jī)電測試系統(tǒng)中常用傳感器應(yīng)用接口電路設(shè)計(jì)。介紹了測試數(shù)據(jù)在與微機(jī)系統(tǒng)傳輸過程中的模擬量輸入輸出通道結(jié)構(gòu)與常用芯片接口,并舉例說明了多路巡回檢測數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。
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關(guān)于第五屆國際測試儀器及應(yīng)用技術(shù)大會(huì)的演講
本視頻為 NI 中國行業(yè)市場經(jīng)理 付文武 在 第五屆國際測試儀器及應(yīng)用技術(shù)大會(huì) 上的演講,題目為《基于PXI的大型現(xiàn)場測試系統(tǒng)構(gòu)建與管理》
2018-06-25 標(biāo)簽:pxi測試系統(tǒng)ni 4.8k 0
常規(guī)的測量方法是:電壓/電流傳感器先將高電壓/大電流信號(hào)變換為低電壓/小電流信號(hào),再連接到分析儀,分析儀只測量低電壓和小電流信號(hào)。這種方式下,傳感器和分...
2021-03-21 標(biāo)簽:測試系統(tǒng)功率測試 4.6k 0
用LabVIEW實(shí)現(xiàn)控制三極管的老化測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
針對(duì)一些功率器件(功率三極管、VDMOS,IGBT等),通過有規(guī)律給元器件通電和斷電,循環(huán)施加電應(yīng)力和熱應(yīng)力,可以檢驗(yàn)其承受循環(huán)應(yīng)力的能力。基于上述原理...
2018-11-15 標(biāo)簽:三極管labview測試系統(tǒng) 4.5k 0
基于LabVIEW測試系統(tǒng)的便攜式汽車儀表檢測系統(tǒng)的研制
對(duì)儀表的種類和構(gòu)造進(jìn)行研究,了解和分析汽車中車速表、轉(zhuǎn)速表、水溫表、燃油表、里程表、各種LED報(bào)警燈、LCD等的結(jié)構(gòu)原理以及他們的顯示原理,分析它們工作...
2013-01-22 標(biāo)簽:CAN總線LabVIEW檢測系統(tǒng) 4.5k 1
基于TS-900的PXI半導(dǎo)體測試系統(tǒng)解決方案
電子行業(yè)正處于不斷的壓力下必須降低其制造成本。上市時(shí)間給半導(dǎo)體制造商很大的壓力,在新產(chǎn)品投入市場后的很短時(shí)間內(nèi),利潤是最高的,隨后,由于競爭者開發(fā)了類似...
2018-12-25 標(biāo)簽:半導(dǎo)體存儲(chǔ)器測試系統(tǒng) 4.4k 0
利用NI FlexRIO FPGA模塊和適配器模塊提升自動(dòng)化測試系統(tǒng)的性能
自從1997年基于FPGA的可重配置I/O(RIO)產(chǎn)品在NIWeek圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)會(huì)議上首次亮相以來,NI已發(fā)布了多種基于NI RIO技術(shù)的設(shè)備,包括...
2020-08-18 標(biāo)簽:fpga適配器測試系統(tǒng) 4.3k 0
基于FPGA動(dòng)態(tài)可重構(gòu)技術(shù)的二模冗余MIPS處理器
本文設(shè)計(jì)了一種基于FPGA動(dòng)態(tài)可重構(gòu)技術(shù)的二模冗余MIPS處理器。系統(tǒng)可以對(duì)系統(tǒng)錯(cuò)誤進(jìn)行自行檢測和錯(cuò)誤自行定位,經(jīng)測試系統(tǒng)可以正常運(yùn)行。本系統(tǒng)下一步的工...
2013-11-28 標(biāo)簽:FPGA測試系統(tǒng)MIPS處理器 4.1k 2
Agilent 66319D雙路輸出移動(dòng)通信直流電源同時(shí)提供測量的主電源和充電器電路測試兩個(gè)輸出,可以使用同一臺(tái)設(shè)備測試手機(jī)和充電器。這種功能有助于節(jié)約...
2023-07-15 標(biāo)簽:電源移動(dòng)通信測試系統(tǒng) 4k 0
路上可以看到各種各樣的充電樁,充電樁只是充電站電氣系統(tǒng)的一部分。一個(gè)完整的充電站電氣系統(tǒng)包括三個(gè)部分:供電系統(tǒng)、充電系統(tǒng)和監(jiān)控系統(tǒng)。源儀電子采用三相交流...
2022-06-01 標(biāo)簽:測試系統(tǒng)充電樁 4k 0
半導(dǎo)體制造的關(guān)鍵環(huán)節(jié):芯片測試
CP(Chip Probing)測試也叫晶圓測試(wafer test),也就是在芯片未封裝之前對(duì)wafer進(jìn)行測試,這樣就可以把有問題的芯片在封裝之前...
2024-04-20 標(biāo)簽:測試系統(tǒng)芯片測試測試機(jī) 4k 0
單片機(jī)測試系統(tǒng)的鏈?zhǔn)酱鎯?chǔ)方式和應(yīng)用方案分析
在自動(dòng)化測試領(lǐng)域里,單片機(jī)測試系統(tǒng)憑借其成熟的應(yīng)用體系,簡單的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)以及優(yōu)良的性價(jià)比得到了越來越廣泛的應(yīng)用。近年來,隨著新的測試對(duì)象不斷出現(xiàn),以及測試...
2020-08-03 標(biāo)簽:芯片單片機(jī)測試系統(tǒng) 3.9k 0
基于LabVIEW開發(fā)軟件和PXI總線實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
發(fā)動(dòng)機(jī)管理模塊作為汽車傳動(dòng)力控制的核心部件,其生產(chǎn)質(zhì)量檢測是保證整個(gè)產(chǎn)品生產(chǎn)過程完整的重要步驟。為了模擬發(fā)動(dòng)機(jī)特定的實(shí)際工作狀況,需要在同一系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)多輸...
2021-04-02 標(biāo)簽:labview測試系統(tǒng)總線 3.8k 0
利用STM32F103ZET6和AD9852DDS實(shí)現(xiàn)信號(hào)源的設(shè)計(jì)
針對(duì)π網(wǎng)絡(luò)石英晶體參數(shù)測試系統(tǒng),采用以STM32F103ZET6型ARM為MCU控制DDS產(chǎn)生激勵(lì)信號(hào)。該測試系統(tǒng)相對(duì)于傳統(tǒng)的PC機(jī)測試系統(tǒng)具有設(shè)備簡單...
2020-09-10 標(biāo)簽:信號(hào)源電感測試系統(tǒng) 3.7k 0
基于SPC2E061A單片機(jī)實(shí)現(xiàn)新型天然氣傳感器測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
隨著人民生活水平的提高,天然氣已普遍使用。但由于使用不當(dāng)或疏于管理等原因?qū)е碌奶烊粴庑孤O大地威脅著人們的生命財(cái)產(chǎn)安全。目前,一般的天然氣報(bào)警器功能單一...
2021-01-25 標(biāo)簽:傳感器單片機(jī)測試系統(tǒng) 3.7k 0
本文來自“專用數(shù)據(jù)處理器(DPU)性能基準(zhǔn)評(píng)測方法與實(shí)現(xiàn)(2022)”介紹 DPU 性能測試系統(tǒng)框架與測試流程,包括測試系統(tǒng)、測試要求、測試活動(dòng)三部分。...
2022-12-02 標(biāo)簽:cpu測試系統(tǒng)DPU 3.7k 0
什么是TLP?Celestron TLP的簡易模型和優(yōu)勢(shì)
杭州季豐電子ESD測試業(yè)務(wù)一直深受客戶的信任和好評(píng),實(shí)驗(yàn)室近期又對(duì)Thermo Celestron TLP(Standard TLP)測試系統(tǒng)進(jìn)行了升級(jí)...
2023-12-11 標(biāo)簽:ESD濾波器測試系統(tǒng) 3.7k 0
電力遠(yuǎn)程圖像監(jiān)控測試系統(tǒng)的基本原理及應(yīng)用設(shè)計(jì)
隨著無人值守變電站管理模式的推廣和變電站自動(dòng)化系統(tǒng)技術(shù)改造的不斷深入,傳統(tǒng)的“四遙”功能(遙測、遙信、遙控、遙調(diào))已不能滿足變電站運(yùn)行管理和設(shè)備維護(hù)的需...
2021-01-07 標(biāo)簽:筆記本電腦監(jiān)控系統(tǒng)測試系統(tǒng) 3.5k 0
采用CAN總線實(shí)現(xiàn)柴油發(fā)動(dòng)機(jī)測試系統(tǒng)的應(yīng)用方案
根據(jù)柴油發(fā)動(dòng)機(jī)的測試要求,本系統(tǒng)主要完成對(duì)柴油發(fā)動(dòng)機(jī)測試過程中各種傳感信號(hào)的處理以及柴油機(jī)工況數(shù)據(jù)的采集,并將數(shù)據(jù)通過CAN總線送上位機(jī),要求處理16路...
2021-03-31 標(biāo)簽:發(fā)動(dòng)機(jī)can總線測試系統(tǒng) 3.5k 0
LIV測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)組成和應(yīng)用分析
圖1示出了LIV測試系統(tǒng)的組成,包括2602型源表、2510-AT型自動(dòng)溫度控制源表和一臺(tái)配備了GPIB接口板的計(jì)算機(jī)。
2020-08-22 標(biāo)簽:電流計(jì)算機(jī)測試系統(tǒng) 3.5k 0
航天器動(dòng)力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)綜合測試系統(tǒng)的原理、結(jié)構(gòu)及技術(shù)問題的解決
在航天器研制和定型生產(chǎn)的過程中,需要進(jìn)行大量的動(dòng)力學(xué)環(huán)境模擬試驗(yàn)。在對(duì)試驗(yàn)有效性*估、航天器產(chǎn)品的質(zhì)量保證中,試驗(yàn)的數(shù)據(jù)采集合數(shù)據(jù)處理占很重要的地位...
2019-07-18 標(biāo)簽:放大器計(jì)算機(jī)測試系統(tǒng) 3.5k 0
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