我們上周更新了針對(duì)PCIe5.0, CXL, NVMe, NAND, DDR5, UFS4測(cè)試技術(shù)和工具白皮書(shū),該白皮書(shū)總計(jì)約902頁(yè),涉及PCIe5.0, CXL, NVMe, NAND, DDR5, UFS4等相關(guān)總線(xiàn)技術(shù)在測(cè)試方面的最新進(jìn)展,方便大家查閱。下面是新版的目錄簡(jiǎn)介。
Chapter 1:Saniffer開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室Open Lab介紹,包括可提供的測(cè)試產(chǎn)品和服務(wù),合作實(shí)驗(yàn)室提供的針對(duì)PCIe Gen5 物理層和協(xié)議層CTS測(cè)試服務(wù),以及相關(guān)培訓(xùn)錄像鏈接。
Chapter 2:PCIe/CXL Gen5協(xié)議分析儀原理、當(dāng)前面臨的挑戰(zhàn)介紹,以及業(yè)內(nèi)最先進(jìn)的Gen5協(xié)議分析儀的架構(gòu)和創(chuàng)新功能,尤其是在信號(hào)質(zhì)量,解碼性能和LTSSM分析等方面的創(chuàng)新;這些創(chuàng)新功能提供了業(yè)內(nèi)開(kāi)發(fā)CPU, GPU, DPU, AI卡,加速卡等各類(lèi)板卡以及SSD的公司,包括各類(lèi)服務(wù)器、存儲(chǔ)系統(tǒng)等研發(fā)中心在實(shí)際診斷PCIe Gen5問(wèn)題過(guò)程中解決最頭疼問(wèn)題的有利武器,解決了傳統(tǒng)PCIe Gen5分析儀由于信號(hào)問(wèn)題無(wú)法使用、解碼耗時(shí)極長(zhǎng),LTSSM初始化問(wèn)題分析不直觀(guān)等各種問(wèn)題。另外,也介紹了Broadcom公司PCIe Gen5 switch芯片內(nèi)部集成的協(xié)議抓包分析功能。
Chapter 3:全球業(yè)內(nèi)應(yīng)用最廣泛的PCIe Gen5 SSD研發(fā)測(cè)試工具介紹,涉及消費(fèi)類(lèi)SSD和企業(yè)級(jí)SSD的重點(diǎn)關(guān)注的功能的測(cè)試介紹,涉及上千個(gè)測(cè)試腳本。
Chapter 4:介紹了針對(duì)各類(lèi)企業(yè)級(jí)PCIe Gen5 SSD的熱插拔,各類(lèi)從物理層和鏈路層的故障注入測(cè)試,功耗分析,電壓拉偏,電壓/電流/功耗和邊帶sideband信號(hào)的高分辨率(例如4us,8us, 16us直至1ms, 10ms到秒級(jí)的采樣率)、長(zhǎng)時(shí)間(例如分鐘級(jí)、小時(shí)、天、星期)的記錄、回溯功能。當(dāng)然,對(duì)于消費(fèi)類(lèi)M.2 SSD或者各類(lèi)插卡,除了不支持熱插拔之外,上述的其它測(cè)試功能也均適用。
Chapter 5:搭建PCIe Gen5測(cè)試環(huán)境必備的產(chǎn)品(一):Gen5 switch卡,retimer卡,測(cè)試盤(pán)柜,轉(zhuǎn)接卡,轉(zhuǎn)接線(xiàn),延長(zhǎng)線(xiàn)等。
Chapter 6:搭建PCIe Gen5測(cè)試環(huán)境必備的產(chǎn)品(二):介紹了業(yè)內(nèi)目前市場(chǎng)上絕大部分的Gen5 Intel和AMD工作站和服務(wù)器,方便日常速查使用,也包括針對(duì)企業(yè)級(jí)Kioxia Gen5 SSD CD8, CM7和Samsung Gen5 PM1743 SSD的介紹,以及基于Phison E26 Gen5 M.2 SSD的介紹和評(píng)測(cè)報(bào)告。另外也順帶介紹了如何擴(kuò)展更多SSD端口進(jìn)行測(cè)試,以及用于溫箱內(nèi)部的PCIe Gen5測(cè)試背板。
Chapter 7:這部分介紹了針對(duì)800MT/1.6GT/2.4GT NAND,DDR5/LPDDR5特性測(cè)試,協(xié)議分析和診斷,顆粒篩選,以及連接示波器和邏輯分析儀使用的各類(lèi)interposer,socket,test board等等。
Chapter 8:國(guó)外、國(guó)內(nèi)常見(jiàn)測(cè)試溫箱的典型架構(gòu)和功能簡(jiǎn)介
Chapter 9:日常測(cè)試使用的各類(lèi)開(kāi)放式主板托架、實(shí)驗(yàn)室內(nèi)部使用的機(jī)架的介紹。
Chapter 10:介紹了目前消費(fèi)類(lèi)手機(jī)和汽車(chē)電子上常用的UFS 3.0/4.0以及eMMC 5.1協(xié)議分析設(shè)備。
Chapter 11:收錄了Wikipedia關(guān)于PCIe, NVMe, CXL, DDR, UFS, NAND的速查資料,結(jié)合協(xié)議分析儀抓取數(shù)據(jù)分析介紹了PCIe和NVMe SSD的初始化過(guò)程,NVMe&UFS解讀,PCIe協(xié)議底層雜談,以及NVMe各種接口簡(jiǎn)介,CXL技術(shù)基礎(chǔ)和應(yīng)用場(chǎng)景,PCIe Gen5 reimter技術(shù)簡(jiǎn)介等。
Chapter 12:實(shí)驗(yàn)室常用PCIe Gen 5 Switch卡,retimer卡,CXL內(nèi)存擴(kuò)展卡,轉(zhuǎn)接卡,轉(zhuǎn)接線(xiàn),延長(zhǎng)線(xiàn)圖解速查,含圖片,型號(hào),描述,方便日常查詢(xún)。
Chapter 13:簡(jiǎn)介了我們?cè)赑CIe Gen4/5方面的定制開(kāi)發(fā)能力,可以結(jié)合客戶(hù)的需求定制開(kāi)發(fā)滿(mǎn)足測(cè)試需求的各類(lèi)Gen5工具和測(cè)試治具。
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白皮書(shū)下載鏈接: https://pan.baidu.com/s/1FSc8LBTKM3aGr3FZ6nvhrQ?pwd=xcb3
2.Saniffer官方網(wǎng)站下載(可能訪(fǎng)問(wèn)速度較慢)
https://www.saniffer.com/中文/文檔下載/
3.如果你對(duì)該白皮書(shū)里面的某些主題感興趣,或者希望在后續(xù)的版本增加某些技術(shù)或者產(chǎn)品,請(qǐng)或者點(diǎn)擊“閱讀原文”留言給我們?;蛘邟呙柘旅娴亩S碼聯(lián)系我們并獲取文檔。
審核編輯 :李倩
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原文標(biāo)題:PCIe5.0, CXL, NVMe, NAND, DDR5, UFS4測(cè)試技術(shù)和工具白皮書(shū)Ver 8.0發(fā)布了!
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