在AI加速、輕薄筆電、智能邊緣、無線通信等新興應(yīng)用推動(dòng)下，PCIe M.2接口正迅速成為高速互聯(lián)的核心載體。從NVMe SSD、Wi-Fi 7無線模組到AI推理加速卡，小巧的M.2插槽正在承載越來越多關(guān)鍵功能，而其底層的高速物理傳輸能力，正面臨前所未有的挑戰(zhàn)。

M.2接口：高性能輕量化的代表

M.2是基于PCI Express總線的物理接口標(biāo)準(zhǔn)，兼顧高帶寬、低延遲、小尺寸等特性，是高性能緊湊型設(shè)備首選的擴(kuò)展方案。目前主流應(yīng)用包括：

■NVMe SSD（PCIe 4.0/5.0）：支持高達(dá)16GB/s的讀寫速率，是現(xiàn)代計(jì)算平臺(tái)的標(biāo)配存儲(chǔ)方案；

■無線網(wǎng)卡（Wi-Fi 6/6E/7）：廣泛用于筆記本、工控終端；

■AI加速器、數(shù)據(jù)采集卡：小型推理計(jì)算模塊或高速接口擴(kuò)展。

然而，隨著M.2接口被用于更高代際（PCIe Gen4 / Gen5）的高速信號(hào)傳輸，電氣驗(yàn)證測(cè)試的復(fù)雜度急劇上升。

測(cè)試挑戰(zhàn): 為何M.2測(cè)試如此“難啃”？

盡管M.2基于PCIe協(xié)議棧，但其測(cè)試卻并不像CEM標(biāo)準(zhǔn)卡（Add-In Card）那樣擁有詳盡的參考資料和成熟生態(tài)。主要挑戰(zhàn)包括：

1缺乏標(biāo)準(zhǔn)化夾具與流程

目前PCI-SIG協(xié)會(huì)未發(fā)布統(tǒng)一的Gen4/Gen5 M.2測(cè)試夾具規(guī)范，市場(chǎng)上缺乏權(quán)威參考。

2兼容性與通用性不明確

不同尺寸（2230/2242/2280）和Key Type（M, B, A+E）接口的測(cè)試夾具能否通用？向下兼容問題常引發(fā)誤測(cè)或測(cè)試盲區(qū)。

3M.2通道測(cè)試路徑特殊

測(cè)試通道與Add-in Card (CEM) 在鏈路拓?fù)?、阻抗匹配、回環(huán)方式等方面存在差異，直接套用標(biāo)準(zhǔn)CEM測(cè)試流程容易失真

4Gen5時(shí)代帶來的SI/BER新難題

高達(dá)32 GT/s的PCIe Gen5信號(hào)使得傳統(tǒng)眼圖測(cè)試已無法滿足評(píng)估精度，需要引入誤碼率分析（BER）、等效時(shí)鐘恢復(fù)（CDR）等機(jī)制。

實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn)提煉: 五個(gè)常見問題詳解

在實(shí)際客戶調(diào)測(cè)M.2接口時(shí)，我們經(jīng)常被問到這些關(guān)鍵問題：

Q1M.2測(cè)試夾具怎么選？

需根據(jù)模塊尺寸、通道數(shù)、協(xié)議代際（Gen3/4/5）選擇匹配的探測(cè)夾具；部分高頻夾具需支持可調(diào)等長(zhǎng)線對(duì)。

Q2M.2是否可以用CEM測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)？

信號(hào)測(cè)試點(diǎn)、通道長(zhǎng)度、參考時(shí)鐘方式均有差異，需進(jìn)行測(cè)試信道差異分析與S參數(shù)仿真比對(duì)。

Q3測(cè)試M.2是否可以回環(huán)（Loopback）？

某些模塊支持回環(huán)，但多數(shù)實(shí)際測(cè)試依賴 BER儀+探頭鏈路；推薦進(jìn)行外部誤碼儀接入。

Q4M.2的信號(hào)完整性（SI）如何評(píng)估？

可結(jié)合抖動(dòng)測(cè)試、通道S參數(shù)、插損、回?fù)p、散射參數(shù)（S21）進(jìn)行建模與眼圖仿真分析。

Q5Gen5是否必須使用誤碼儀？

建議使用實(shí)時(shí)示波器+誤碼儀聯(lián)合測(cè)試，滿足32GT/s BER<1e-12 的要求。

泰克提供一站式M.2電氣測(cè)試方案

? 高速測(cè)試夾具選型支持

支持多種M.2 form factor、Gen4/5速率、Key類型接口，兼容主流SSD/Wi-Fi模塊。

?鏈路誤碼率測(cè)試

配合泰克BERTScope或自帶BER仿真模塊的實(shí)時(shí)示波器，實(shí)現(xiàn)M.2高速通道誤碼率和抖動(dòng)分析。

? 實(shí)時(shí)眼圖 & PHY驗(yàn)證

通過6系/7系高帶寬MSO示波器與TekExpress PCIe軟件，自動(dòng)完成PHY級(jí)眼圖與一致性分析。

? 定制化仿真/測(cè)試協(xié)助

提供測(cè)試點(diǎn)S參數(shù)提取、IBIS-AMI建模、通道均衡與CTLE/DFE優(yōu)化建議，支持高頻誤差源定位。